El sistema de haz de iones enfocados (FIB): la revolución electrónica

  • Andrés F. Sandoval C. Universidad Central
  • Mikel F. Hurtado M. Universidad Central

Resumen

La ingeniería electrónica ha logrado grandes avances a lo largo de su historia, con los cuales ha mejorado la calidad de vida de las personas mediante grandes aportes a la medicina, la industria, la ciencia y el medioambiente. Esto se ha logrado a partir de investigaciones que se han llevado a cabo por décadas, y han abierto múltiples posibilidades para investigaciones futuras y nuevos desarrollos. Uno de los avances modernos más significativos logrados por la electrónica fue la miniaturización de los circuitos integrados, que transformó totalmente este campo de estudio a partir del desarrollo revolucionario del sistema de haz de iones enfocados o FIB (focused ion beam). El FIB es un sistema similar al microscopio electrónico de barrido o SEM (scanning electron microscope); la principal diferencia es que el sistema SEM permite disparar haces de electrones hacia una superficie, mientras que el sistema FIB dispara tanto haces de electrones como haces de iones de galio. El sistema FIB también es bastante empleado en la industria de los semiconductores para procesos de fabricación —de hecho, esta fue una de sus primeras aplicaciones—; pero en la actualidad se emplea en otros ámbitos, como en litografía electrónica, micromanipulación de materiales, análisis de elementos y generación de circuitos electrónicos nanoestructurados.


* Este artículo es resultado del proyecto de investigación en estado sólido, micro- y nanoestructuras “Nuevas técnicas en diseño de circuitos nanoestructurados”.

Biografía del autor

Andrés F. Sandoval C., Universidad Central

Estudiante de Ingeniería Electrónica de la Universidad Central.
Correo: asandovalc1@ucentral.edu.co.

Mikel F. Hurtado M., Universidad Central

Químico, magíster en Ciencias y Termodinámica, magíster en Ciencia de Materiales y Nanotecnología. Doctor en química y posdoctorado en nanomateriales. Profesor asociado del Departamento de Ingeniería Electrónica y miembro de los grupos de investigación Maxwell y SPIN.
Correo: mhurtadom1@ucentral.edu.co.

Publicado
2018-12-03
Cómo citar
SANDOVAL C., Andrés F.; HURTADO M., Mikel F.. El sistema de haz de iones enfocados (FIB): la revolución electrónica. Ingeciencia, [S.l.], v. 2, n. 2, p. 83-89, dic. 2018. ISSN 2500-929X. Disponible en: <http://editorial.ucentral.edu.co/ojs_uc/index.php/Ingeciencia/article/view/2687>. Fecha de acceso: 18 jul. 2019
Sección
Artículos